內(nèi)存條常常被做的手腳有:速度標(biāo)記被更改,如:70ns被重新打磨為60ns;非奇偶校驗冒充奇偶校驗內(nèi)存;非EDO內(nèi)存冒充EDO內(nèi)存;劣質(zhì)內(nèi)存條冒充好內(nèi)存條。 在BIOS中將內(nèi)存條讀寫時間適當(dāng)增加(如:從60ns升為70ns),如果死機消失可以斷定是內(nèi)存條速度問題。 如果是內(nèi)存本身的質(zhì)量問題,只有通過更換新的內(nèi)存條才能解決。 CACHE CACHE也存在以次充好問題。另外,CACHE本身的損壞也導(dǎo)致嚴(yán)重的死機。 在系統(tǒng)BIOS設(shè)置中的關(guān)閉外部CACHE選項,如果死機消失,則必是CACHE問題。
安裝不當(dāng)導(dǎo)致部件變形、損壞引起的死機 口徑不正確、長度不恰當(dāng)?shù)穆葆敵3?dǎo)致部件安裝孔損壞、螺釘接觸到部件內(nèi)部電路引起短路導(dǎo)致死機;不規(guī)格的主板、零部件或不規(guī)范的安裝步驟常常引起機箱、主板、板卡外形上的變異因而擠壓該部件內(nèi)部元件導(dǎo)致局部短路、內(nèi)部元件損壞導(dǎo)致莫名其妙的死機。 如果只是微機部件外觀變形,可以通過正確的安裝方法和更換符合規(guī)格的零部件來解決;如果已經(jīng)導(dǎo)致內(nèi)部元件損壞,則只能更換新的零部件了。
由于頻繁修改CMOS參數(shù),或病毒對CMOS參數(shù)的破壞,常常導(dǎo)致CMOS參數(shù)混亂而很難恢復(fù)??梢圆捎脤MOS放電的方法并采用系統(tǒng)BIOS默認(rèn)設(shè)置值重新設(shè)定CMOS參數(shù)。CMOS的放電方法可參照主板說明書進(jìn)行。重設(shè)CMOS參數(shù)后,還必須對硬盤殺毒。
排除因使用、維護(hù)不當(dāng)引起的死機現(xiàn)象 微機在使用一段時間后會因為使用、維護(hù)不當(dāng)而引起死機,尤其是長時間不使用微機后常會出現(xiàn)此類故障。引起的原因有以下幾種: ①積塵導(dǎo)致系統(tǒng)死機 灰塵是微機的大敵。過多的灰塵附著在CPU、芯片、風(fēng)扇的表面會導(dǎo)致這些元件散熱不良;電路印刷板上的灰塵在潮濕的環(huán)境中常常導(dǎo)致短路。上述兩種情況均會導(dǎo)致死機。 可以用毛刷將灰塵掃去,或用棉簽沾無水酒精清洗積塵元件。注意不要將毛刷和棉簽的毛、棉留在電路板和元件上,從而成為新的死機故障源。