測(cè)試治具，應(yīng)用于電源控制器領(lǐng)域，給控制器提供電源，監(jiān)測(cè)輸出是否符合需求，具有短路保護(hù)，過(guò)壓保護(hù)功能。
對(duì)于當(dāng)今ICT測(cè)試治具應(yīng)用測(cè)試的重要性很多朋友們不是很清楚，因?yàn)樯鐣?huì)的發(fā)展太快技術(shù)也是在日新月累，深圳鴻沃科技分析當(dāng)今ICT測(cè)試治具相關(guān)專業(yè)知識(shí)。測(cè)試治具生產(chǎn) 測(cè)試治具廠家 深圳鴻沃治具
首先ICT測(cè)試治具它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。測(cè)試治具生產(chǎn) 測(cè)試治具廠家 深圳鴻沃治具
還可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，對(duì)每種單板需制作專用的針床，這個(gè)針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它ICT測(cè)試治具。
表示設(shè)備多能設(shè)多少個(gè)測(cè)試點(diǎn)。一般電阻、電容等元件只有兩條引腳，每個(gè)元件只用兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)就夠了。ICT有多個(gè)引腳，每條引腳都需要設(shè)一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。元件越多，電路板越復(fù)雜，需要測(cè)試點(diǎn)越多。因此，測(cè)試儀需要足夠多的測(cè)試點(diǎn)數(shù)。目前ICT的測(cè)試點(diǎn)數(shù)可達(dá)2048點(diǎn)，已足夠用了。
測(cè)試治具測(cè)試范圍：
電阻的測(cè)試范圍：一般0.05Ω～40MΩ；
測(cè)試治具生產(chǎn) 測(cè)試治具廠家 深圳鴻沃治具
電容的測(cè)試范圍：一般1pF～40000μF
測(cè)試治具電感的測(cè)試范圍：一般1μH～40H
測(cè)試電壓、電流、頻率
測(cè)試電壓一般為0～10V
測(cè)試電流一般為1μA～80mA
頻率一般為1Hz～100KHz
測(cè)試治具電路板尺寸
的電路板尺寸一般為460×350mm
測(cè)試治具測(cè)試原理
1電阻測(cè)試
電阻是測(cè)試其阻值。其工作原理很簡(jiǎn)單，就是在電阻的測(cè)試針上加一個(gè)電流，然后測(cè)試這個(gè)電阻兩端的電壓，利用歐姆定律：R=U/I算出該電阻的阻值。
2 電容測(cè)試
測(cè)試治具生產(chǎn) 測(cè)試治具廠家 深圳鴻沃治具
測(cè)試電容是測(cè)量其容量。小電容的測(cè)試方法與電阻類似，不過(guò)是用交流信號(hào)，利用XC=U/I 同時(shí)，XC=1/(ωC) 而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是測(cè)試頻率，U、I是測(cè)試信號(hào)的電壓和電流有效值。大容量的電容測(cè)試用DC方法，即用直流電壓加在電容兩端，充電流隨時(shí)間或指數(shù)減少的規(guī)律，在測(cè)試時(shí)加一定的延時(shí)時(shí)間就可測(cè)出其容量。
3 電感測(cè)試
電感的測(cè)試方法和電容的測(cè)試類似，只用交流信號(hào)測(cè)試。
4二極管測(cè)試
二極管正向測(cè)試時(shí)，加一正向電流在二極管上，二極管的正向壓降為0.7V(硅材料管)，加一反向電流在二極管上，二極管壓降會(huì)很大。
5 三極管測(cè)試
三極管分三步測(cè)試：先測(cè)試bc極和be極之間的正向壓降，這和二極管的測(cè)試方法相同。再測(cè)試三極管的放大作用：在be極加一基極電流，測(cè)試ce極之間的電壓。例如：b、e極加1mA電流時(shí)，c、e之間的電壓由原來(lái)2V降到0.5V，則三極管處于正常的放大工作狀態(tài)。
6 跳線測(cè)試
跳線是跨接印制板做連線用的，只有通斷兩種情況。測(cè)試其電阻阻值就可以判斷好壞。測(cè)試方法和測(cè)試電阻是相同的。
7)IC測(cè)試
測(cè)試治具生產(chǎn) 測(cè)試治具廠家 深圳鴻沃治具
一般地講，對(duì)IC只測(cè)試其引腳是否會(huì)有連焊、虛焊的情況，至于IC內(nèi)部性能如何是無(wú)法測(cè)試出來(lái)的。測(cè)試方法是將IC的各引腳對(duì)電源VCC引腳的正反向電壓測(cè)試一遍，再將各引腳對(duì)IC接地端GND引腳的正反向電壓測(cè)試一遍。與正常值進(jìn)行比較，有不正常的可以判斷該引腳連焊或虛焊。
ICT測(cè)試不良及常見(jiàn)故障的分析方法
測(cè)試治具生產(chǎn) 測(cè)試治具廠家 深圳鴻沃治具
開(kāi)路不良，所謂開(kāi)路不良就是指在某一個(gè)短路群中，各個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間本來(lái)應(yīng)該是短路，但卻出現(xiàn)了某個(gè)測(cè)試點(diǎn)對(duì)其所在短路群的其它測(cè)試點(diǎn)是開(kāi)路的。
測(cè)試治具生產(chǎn) 測(cè)試治具廠家 深圳鴻沃治具
深圳鴻沃科技有限公司，是一家專業(yè)從事設(shè)計(jì)，研發(fā)制造各類非標(biāo)自動(dòng)及半自動(dòng)化設(shè)備，各種工裝，測(cè)試，工裝夾具、 測(cè)試治具、非標(biāo)設(shè)備設(shè)計(jì)制造服務(wù)為一體的測(cè)試設(shè)備及測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的高科技公司。公司主要從事電路板測(cè)試設(shè)備、測(cè)試治具、自動(dòng)化控制軟件和設(shè)備、FCT測(cè)試治具、ATE測(cè)試治具、ICT測(cè)試治具、過(guò)錫爐治具、裝配工裝治具、治具相關(guān)配件；工裝夾具、LED治具、FPC治具、治具配件、五金加工、精密零部件研發(fā)生產(chǎn)和銷售。