CST-50沖擊試樣缺口投影儀

產(chǎn)品說明：CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計、開發(fā)的一種專用光學儀器，與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標準樣板圖進行對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高。是理化試驗室的必備專用設(shè)備。

技術(shù)參數(shù)：

投影屏： 200×200mm

放大倍數(shù)： 50X

光源： 12V 100W（鹵鎢燈）

電源： 220V 50Hz 150W

外型尺寸： 515×224×603mm

重量： 約18Kg