精密低阻測(cè)量

在低電流電路中，機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問(wèn)題。HP 4338B提供可選擇的低交流測(cè)試信號(hào)(1μA~10mA)。用戶(hù)目前可在低電流的條件下來(lái)表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來(lái)確定繼電器、開(kāi)關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測(cè)試中的微小差別。1kHz測(cè)試信號(hào)消除了由熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測(cè)試信號(hào)是檢查電池內(nèi)阻的方法，因?yàn)樗苊饬酥绷髂芰康南摹?/p>

高速測(cè)量

高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)構(gòu)成一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間縮短到限度。

自動(dòng)測(cè)量方式

在進(jìn)行大量連續(xù)的測(cè)試、而測(cè)試信號(hào)電平又不是很主要的因素時(shí)，自動(dòng)測(cè)量功能會(huì)使儀器選擇合適的測(cè)試信號(hào)并設(shè)定測(cè)量范圍。

技術(shù)指標(biāo)

(的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料)

測(cè)量功能

測(cè)量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])

組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)

數(shù)學(xué)功能：偏差和相對(duì)偏差(以百分比表示)

顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)

測(cè)試信號(hào)特性

測(cè)試頻率：1kHz

頻率精度：±0.1%

測(cè)試信號(hào)電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms

電平精度：±(10%＋0.2μA)

樣品兩端的電壓：在任何情況下為20mV峰值

測(cè)量范圍

參數(shù)測(cè)量范圍

R 10μΩ~100kΩ

X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)

L 10nH~10H(典型值)

θ -180°~＋180°(典型值)

測(cè)量精度：R的基本精度為±0.4%

測(cè)量時(shí)間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測(cè)量(EOM)信號(hào)輸出的時(shí)間間隔

模式時(shí)間(典型值)

短34ms

中等70ms

長(zhǎng)900ms

修正功能

短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具中雜散寄生阻抗引的測(cè)量誤差本公司長(zhǎng)期現(xiàn)金高價(jià)回收：

實(shí)驗(yàn)室使用設(shè)備/各類(lèi)儀器儀表/測(cè)量?jī)x器/各類(lèi)工廠閑置庫(kù)存設(shè)備/單位廢棄/閑著研究設(shè)備/個(gè)人處理儀器

主要回收類(lèi)型：示波器，頻譜儀，信號(hào)發(fā)生器，頻率計(jì)，無(wú)線電綜測(cè)儀，網(wǎng)絡(luò)分析儀，邏輯分析儀，

晶體管圖示儀，lcr電橋、數(shù)據(jù)采集儀、光譜儀、光表、光源、電源、電子負(fù)載、

無(wú)線測(cè)試儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、色彩分析儀，萬(wàn)用表、配件，探頭等

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主要回收品牌：泰克（Tektronix）、安捷倫（Agilent）、是德（Keysight）、羅德與施瓦茨（R&S）、

愛(ài)德萬(wàn)（Advantest）、安立（Anritsu）、萊特波特（LitePoint）、福祿克（Fluke）、橫河（Yokogawa）、

吉時(shí)利（Keithley）、柯卡美能達(dá)、艾法斯（Aeroflex

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