本科生集成電路實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/strong>
通過(guò)實(shí)驗(yàn)動(dòng)手操作,加深對(duì)半導(dǎo)體物理理論知識(shí)的理解,掌握半導(dǎo)體材料和不同器件性能的表征方法及基本實(shí)驗(yàn)技能,培養(yǎng)分析問(wèn)題和解決問(wèn)題的能力。
本科生集成電路實(shí)驗(yàn)目錄
實(shí)驗(yàn)一:金屬-氧化物-半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管特性IV特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)二:四探針?lè)y(cè)量半導(dǎo)體電阻率測(cè)試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)三: MOS電容的CV特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)四:半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)五:激光二極管LD的LIV特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)六:太陽(yáng)能電池的特性表征實(shí)驗(yàn)
本科生集成電路實(shí)驗(yàn)平臺(tái)優(yōu)勢(shì)
滿足本科生基礎(chǔ)教學(xué)實(shí)驗(yàn)中微電子器件和材料測(cè)試需求
測(cè)試設(shè)備簡(jiǎn)單易用,專業(yè),方便學(xué)生動(dòng)手操作
核心設(shè)備測(cè)試精度高,滿足新材料和新器件的指標(biāo)要求
測(cè)試軟件功能齊全,平臺(tái)化設(shè)計(jì),有專人維護(hù)支持,與專業(yè)測(cè)試軟件使用相同架構(gòu)
以基礎(chǔ)平臺(tái)為起點(diǎn),可逐步升級(jí),滿足日益增加的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試需求
本科生集成電路實(shí)驗(yàn)基本功能
實(shí)驗(yàn)名稱
測(cè)試參數(shù)
金屬-氧化物-半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管特性的IV特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)
l輸出特性曲線
l轉(zhuǎn)移特性曲線
l跨導(dǎo)gm
l擊穿電壓BVDS
l
四探針?lè)y(cè)量半導(dǎo)體電阻率測(cè)試實(shí)驗(yàn)
l四探針?lè)娮杪师?/p>
l材料阻值R
MOS電容的CV特性測(cè)試實(shí)驗(yàn)(低頻 + 高頻)
lCV特性曲線
半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測(cè)試實(shí)驗(yàn)
l霍爾電壓VH
l霍爾電阻率ρ
l霍爾系數(shù)RH
l載流子濃度n
l霍爾遷移率u
激光二極管LD的LIV特性測(cè)試
lLIV特性曲線
l閾值電流Ith
l閾值電流對(duì)應(yīng)電壓值Vth
l拐點(diǎn)Kink
l線性電阻Rs
太陽(yáng)能電池的特性表征
l開(kāi)路電壓Voc
l短路電流Isc
l功率值Pmax
l填充因子FF
l轉(zhuǎn)換效率η
l串聯(lián)電阻Rs
l旁路電阻Rsh
本科生集成電路實(shí)驗(yàn)平臺(tái)核心
測(cè)試平臺(tái)的核心– 源測(cè)量單元(源表, SMU)
普賽斯國(guó)產(chǎn)源表四表合一四象限模式
四線/開(kāi)爾文測(cè)試功能
小信號(hào)測(cè)試
滿足器件和材料測(cè)試需求
交流測(cè)試使用LCR表
探針臺(tái):4寸或6寸手動(dòng)探針臺(tái)
有關(guān)S型源表搭建集成電路實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的更多信息請(qǐng)咨詢一八一四零六六三四七六