特點(diǎn):◆ 采用分光鏡設(shè)計(jì),減少光損失,提高成像清晰度,使光線(xiàn)均勻照射物體表面
◆ 同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影,從而減少干擾部分。
應(yīng)用:◆ 此系列光源適用于表面反射度的物體,如金屬、玻璃、晶體等表面劃傷的檢測(cè);芯片和硅片的破損檢測(cè)。
◆ Mark點(diǎn)定位
◆ 包裝條碼識(shí)別
特點(diǎn):◆ 采用分光鏡設(shè)計(jì),減少光損失,提高成像清晰度,使光線(xiàn)均勻照射物體表面
◆ 同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影,從而減少干擾部分。
應(yīng)用:◆ 此系列光源適用于表面反射度的物體,如金屬、玻璃、晶體等表面劃傷的檢測(cè);芯片和硅片的破損檢測(cè)。
◆ Mark點(diǎn)定位
◆ 包裝條碼識(shí)別
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