什么是高低溫試驗？

高低溫試驗是用來確定產(chǎn)品在高溫或低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性的方法。114檢測試驗的嚴(yán)苛程度取決于高溫或低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。顧名思義，就是用于高溫、低溫的可靠性試驗，所以高低溫試驗又是高溫試驗和低溫試驗的簡稱。

高低溫試驗?zāi)康氖窃u價高低溫條件對裝備在存儲和工作期間的性能影響。高低溫試驗的試驗條件、試驗實施、試驗步驟在GJB 150.3A一2009《軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法高溫試驗》與GJB 150.4A—2009《軍用裝備試驗室環(huán)境試驗方法低溫試驗》中都有詳細(xì)的規(guī)定。

高低溫檢測電話：13691093503

高低溫試驗測試流程：

1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50°C，保持4個小時;

請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生+20°C以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測試。

2、開機，對樣品進(jìn)行性能測試，對比性能與常溫相比是否正常。

3、進(jìn)行老化測試，觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。

4、升溫到+90°C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行2、3、4測試步驟。

5、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。

如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測試失敗。

高低溫試驗參考標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法

GB/T2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法

GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法