安藤AQ6317C的是一種先進的廣泛應用，

AQ6317C是先進的光譜分析儀 適用于光學儀器中的光源測試、波長損耗特性的測量以及WDM系統(tǒng)的波形分析。

特別對于C波段和l波段，該裝置有很高的波長精度和波長線性特性，并且能對用于WDM的光學儀器進行測評。裝置所提供的分析功能使操作和擴充變得簡單。與以前的型號相比，AQ6317C的波長精度已提高到±20pm，并且該指標值也是L波段的公稱值。WDM的分析功能和凹口寬度的分析功能已得到進一步改善，并新增加了多通道NF分析功能和光濾波器的分析功能。加上在其它方面的改進例如掃描的加速，該裝置非常容易操作和使用。

AQ6317C包含了Ando關于光譜分析儀的新技術-是下一代測試的參考設備。

AQ6317C包含了Ando關于光譜分析儀的新技術-是下一代測試的參考設備。

特點：

1、 高波長精度

在600至1750nm全波長范圍內，精度可達±0.1nm，在1520-1580nm范圍內，精度高達±0.02nm，在1450到1520nm、1580-1620nm范圍，精度高達±0.04nm。特別適用于WDM器件的高精度波長損耗特性測量。

2、 高波長線性度

±0.01nm（C波段）；±0.02nm（S及L波段）

3、 高波長分辨率

波長分辨率可達15pm甚至更好。

圖1 DFB激光光譜的測量舉例

4、 適用50GHz WDM信號的寬動態(tài)范圍

在峰值±0.4nm時的動態(tài)范圍為70dB，在峰值為±0.2nm時的動態(tài)范圍為60dB。

對于50GHz WDM系統(tǒng)在寬動態(tài)范圍內可進行高精度測量。

圖2動態(tài)范圍內進行測量的例子

5、 更快的測量速度

在高精度測量時，比以前型號的測量速度加快2倍以上。

6、 多種分析功能

對WDM以及其它光學設備（LD，LED，F(xiàn)BG等）的分析功能、可編程功能，光放大器噪聲分析功能、曲線擬合功能、多信道噪聲分析的SSE抑制功能。另外，還增加了模板用于生產質量測試的檢驗功能，外部氣體吸光設備校正波長功能。

7、 同步掃描

與一個AQ4321A/D可調諧光源連接，通過高速同步掃描（高速度：10nm/秒）可達到更高波長分辨率和更寬的動態(tài)范圍。

8、 寬帶寬、高靈敏度和大功率測量

-90至+20dBm（1200to1600nm）

波長范圍：600~1700nm

高波長精度：±0.01nm

高波長分辨率：0.02nm

大動態(tài)范圍：78dB(典型值)

寬功率量程：+20~-90dBm

快速測量：0.2秒(100nm跨度)

適用于單模和多模光纖

標準版和高性能版

AQ6370D共有2種機型，分別是標準版和高性能版。高性能版可以提供的波長精度更高、動態(tài)范圍更大。

高波長分辨率： 0.02nm

高性能版：±0.01nm(C波段)

標準版：±0.02nm(C+L波段)

波長范圍標準版(-10)高性能版(-20)

1520~1580nm

1580~1620nm

1450~1520nm

全范圍±0.02 nm