關(guān)鍵性能

專為快速構(gòu)建測(cè)試解決方案，加速實(shí)施制造測(cè)試而設(shè)計(jì)

提高對(duì)無(wú)線元器件、功率放大器和射頻前端模塊進(jìn)行制造測(cè)試的吞吐量

一個(gè) 18 插槽機(jī)箱可以安裝多達(dá) 4 個(gè) VXT 收發(fā)信機(jī)，從而提高測(cè)試密度，減小占用空間

利用開(kāi)源測(cè)試程序庫(kù)和參考解決方案大幅縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間

內(nèi)置由 FPGA 加速的測(cè)量，讓您從開(kāi)始設(shè)計(jì)時(shí)便一步

使用經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的軟件對(duì)測(cè)試程序進(jìn)行優(yōu)化，更好地執(zhí)行噪聲系數(shù)和特定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量