安檢門原理由晶振產(chǎn)生3.5-4.95M的正弦振蕩，由分頻器分頻為7.6K左右正弦波，經(jīng)三極管與線圈進(jìn)行功率放大后輸入門板（7區(qū)）大線圈進(jìn)行電磁波發(fā)射，由門內(nèi)1-6區(qū)線圈分別進(jìn)行接收。接收后，將接收到的信號與基準(zhǔn)信號進(jìn)行了比較，發(fā)現(xiàn)變化后，改變采集卡輸出電平，CPU在280毫秒內(nèi)對6個區(qū)位采集卡數(shù)據(jù)進(jìn)行掃描，判斷金屬所在區(qū)位并輸出顯示。
二、結(jié)構(gòu) 1、門板結(jié)構(gòu)：由1個大線圈、6個小線圈、補(bǔ)償線圈及石墨組成。2、機(jī)箱結(jié)構(gòu) 安檢門
三、探測時(shí)工作流程 CPU探測→一組紅外被擋→檢測各采集卡數(shù)據(jù)是否變化→報(bào)警→檢測另一組紅外→復(fù)位重新探測。
安檢門報(bào)警原理
安檢門能對通過的金屬物體產(chǎn)生報(bào)警，是由于兩側(cè)門板內(nèi)裝有能發(fā)射和接收交變電磁場的傳感器。金屬導(dǎo)電體受交變電磁場激勵時(shí)，在金屬導(dǎo)電體中產(chǎn)生渦流電流，而該電流又發(fā)射一個與原磁場頻率相同但方向相反的磁場，金屬探測器就是通過檢測該渦流信號有無來發(fā)現(xiàn)附近是否存在金屬物。由發(fā)射器發(fā)射出激勵電磁波，由接收傳感器接收金屬物的信號，接收傳感器把渦流產(chǎn)生的信號檢取出來，再經(jīng)過電路一系列的放大處理，當(dāng)信號量達(dá)到設(shè)定值時(shí)即以聲光形式產(chǎn)生報(bào)警。
現(xiàn)今國際市場上，安檢門比較流行使用的有兩種電磁場發(fā)射信號模式：
1、正弦波：正弦波發(fā)射方式的優(yōu)點(diǎn)是信號處理較簡單、成本低、靈敏度高；缺點(diǎn)是容易受干擾。
2、脈沖波：脈沖發(fā)射方式與正弦波發(fā)射方式相反，信號處理較復(fù)雜、成本高；優(yōu)點(diǎn)是抗干擾能力強(qiáng)。
從功能分類：板式、折疊式以及便攜式，折疊式相對板式的應(yīng)用得少些，但折疊式卻便于移動，多見于各大活動場所。
20區(qū)位安檢門 02PN20(便攜式)
PMD3 Elliptic Mobile金屬探測門（柱式）
MCD單區(qū)安檢門、通過式金屬探測門
CLASSIC 柱式安檢門（便攜柱式）
多區(qū)位安檢門 8-24區(qū)GG-LCDX（板式）
45區(qū)位智能安檢門 GG-4500（45區(qū)板式）
柱型安檢門GG-ELLIPSE
折疊安檢門GG-FOLD
HI-PE Multi-Zone多區(qū)域高性能金屬探測門（板式）
CEIA安檢門多功能金屬探測門以及輻射探測門（板式便攜）
折疊安檢門
可以折疊起來，底部有輪子
通常安檢門均應(yīng)設(shè)計(jì)有實(shí)時(shí)信號強(qiáng)弱指示燈，能夠顯示金屬物大小和干擾信號強(qiáng)弱。實(shí)時(shí)信號指示燈在初次安裝時(shí)和使用過程中都具有非常重要的作用。在初次安裝時(shí)和使用過程中可以根據(jù)信號燈指示的情況對安檢門進(jìn)行調(diào)整合適的探測參數(shù)，盡量把外部環(huán)境帶來的干擾降到，從而提高安檢門的探測準(zhǔn)確程度。有些生產(chǎn)企業(yè)為了掩人耳目將此信號燈取消，或在沒人通過時(shí)關(guān)掉，讓用戶認(rèn)為安檢門工作很正常；殊不知，此時(shí)的安檢門一直處在不穩(wěn)定狀態(tài)中，無論你是否攜帶有金屬通過均會報(bào)警。而帶有信號強(qiáng)弱指示燈的安檢門在安裝時(shí)可以根據(jù)干擾強(qiáng)度來調(diào)整工作參數(shù)，排除外來干擾對安檢門的影響，確保安檢門正常工作。安檢門帶有環(huán)境自檢功能，有效的達(dá)到抗擾、排擾。
選擇在同一種環(huán)境（包括電源、外部環(huán)境電磁干擾相同情況）下試驗(yàn)：通電開機(jī)，擋住紅外線對射裝置，以解除紅外線限制報(bào)警的功能。把報(bào)警靈敏度設(shè)置為較靈敏（較高）級別，讓安檢門處于報(bào)警等待，這時(shí)觀察信號燈閃亮的個數(shù)，如果亮的個數(shù)很多，甚至產(chǎn)生亂報(bào)警，可以試著改變安檢門的工作頻率，避開外界鄰近頻率干擾，直至信號燈亮得少。如果改換了工作頻率，安檢門工作仍然不穩(wěn)定甚至亂報(bào)警，說明該安檢門自身的穩(wěn)定性和抗干擾能力差。要對各種型號的安檢門逐一進(jìn)行比較，在同一探測能力（探測同一種金屬物） 情況下，擇優(yōu)選取。