安檢門(mén)保養(yǎng)
1、門(mén)體表面污漬可用濕布擦拭。
2、油跡和比較難清理的污漬可用天那水、酒精、抹機(jī)水擦拭。
3、每天需關(guān)機(jī)2小時(shí)以上，以防長(zhǎng)期工作元器件過(guò)熱而降低性能。
安檢門(mén)報(bào)警原理
安檢門(mén)能對(duì)通過(guò)的金屬物體產(chǎn)生報(bào)警，是由于兩側(cè)門(mén)板內(nèi)裝有能發(fā)射和接收交變電磁場(chǎng)的傳感器。金屬導(dǎo)電體受交變電磁場(chǎng)激勵(lì)時(shí)，在金屬導(dǎo)電體中產(chǎn)生渦流電流，而該電流又發(fā)射一個(gè)與原磁場(chǎng)頻率相同但方向相反的磁場(chǎng)，金屬探測(cè)器就是通過(guò)檢測(cè)該渦流信號(hào)有無(wú)來(lái)發(fā)現(xiàn)附近是否存在金屬物。由發(fā)射器發(fā)射出激勵(lì)電磁波，由接收傳感器接收金屬物的信號(hào)，接收傳感器把渦流產(chǎn)生的信號(hào)檢取出來(lái)，再經(jīng)過(guò)電路一系列的放大處理，當(dāng)信號(hào)量達(dá)到設(shè)定值時(shí)即以聲光形式產(chǎn)生報(bào)警。
現(xiàn)今國(guó)際市場(chǎng)上，安檢門(mén)比較流行使用的有兩種電磁場(chǎng)發(fā)射信號(hào)模式：
1、正弦波：正弦波發(fā)射方式的優(yōu)點(diǎn)是信號(hào)處理較簡(jiǎn)單、成本低、靈敏度高；缺點(diǎn)是容易受干擾。
2、脈沖波：脈沖發(fā)射方式與正弦波發(fā)射方式相反，信號(hào)處理較復(fù)雜、成本高；優(yōu)點(diǎn)是抗干擾能力強(qiáng)。
門(mén)框材料也是影響安檢門(mén)質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)之一，由于電磁場(chǎng)環(huán)境下被檢測(cè)的金屬產(chǎn)生的信號(hào)量非常小，因此信號(hào)處理通常要放大幾萬(wàn)倍才能滿足電路驅(qū)動(dòng)要求，前級(jí)的傳感器那怕只有小小的位移變化，經(jīng)電路放大后，足可以引起報(bào)警，因此要求安檢門(mén)殼在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中變形越小越好。
通常安檢門(mén)均應(yīng)設(shè)計(jì)有實(shí)時(shí)信號(hào)強(qiáng)弱指示燈，能夠顯示金屬物大小和干擾信號(hào)強(qiáng)弱。實(shí)時(shí)信號(hào)指示燈在初次安裝時(shí)和使用過(guò)程中都具有非常重要的作用。在初次安裝時(shí)和使用過(guò)程中可以根據(jù)信號(hào)燈指示的情況對(duì)安檢門(mén)進(jìn)行調(diào)整合適的探測(cè)參數(shù)，盡量把外部環(huán)境帶來(lái)的干擾降到，從而提高安檢門(mén)的探測(cè)準(zhǔn)確程度。有些生產(chǎn)企業(yè)為了掩人耳目將此信號(hào)燈取消，或在沒(méi)人通過(guò)時(shí)關(guān)掉，讓用戶認(rèn)為安檢門(mén)工作很正常；殊不知，此時(shí)的安檢門(mén)一直處在不穩(wěn)定狀態(tài)中，無(wú)論你是否攜帶有金屬通過(guò)均會(huì)報(bào)警。而帶有信號(hào)強(qiáng)弱指示燈的安檢門(mén)在安裝時(shí)可以根據(jù)干擾強(qiáng)度來(lái)調(diào)整工作參數(shù)，排除外來(lái)干擾對(duì)安檢門(mén)的影響，確保安檢門(mén)正常工作。安檢門(mén)帶有環(huán)境自檢功能，有效的達(dá)到抗擾、排擾。
選擇在同一種環(huán)境（包括電源、外部環(huán)境電磁干擾相同情況）下試驗(yàn)：通電開(kāi)機(jī)，擋住紅外線對(duì)射裝置，以解除紅外線限制報(bào)警的功能。把報(bào)警靈敏度設(shè)置為較靈敏（較高）級(jí)別，讓安檢門(mén)處于報(bào)警等待，這時(shí)觀察信號(hào)燈閃亮的個(gè)數(shù)，如果亮的個(gè)數(shù)很多，甚至產(chǎn)生亂報(bào)警，可以試著改變安檢門(mén)的工作頻率，避開(kāi)外界鄰近頻率干擾，直至信號(hào)燈亮得少。如果改換了工作頻率，安檢門(mén)工作仍然不穩(wěn)定甚至亂報(bào)警，說(shuō)明該安檢門(mén)自身的穩(wěn)定性和抗干擾能力差。要對(duì)各種型號(hào)的安檢門(mén)逐一進(jìn)行比較，在同一探測(cè)能力（探測(cè)同一種金屬物） 情況下，擇優(yōu)選取。